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  • SIR 13PCB离子迁移试验仪

    通过与恒温恒湿箱的组合,在湿热环境下进行离子迁移,绝缘电阻,绝缘特性的评价试验。各测定通道或群组可设定Z高250V/500V/100V的施加电压,且各测定回路拥有独立的电流检测回路。Z多可同时测定128通道。 通过测定电缆线的屏蔽,电流电压转换回路的滤波,软件滤波等的噪声,可实现稳定的微小电流和高电阻测试。

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  • MLR22导通可靠性评价系统

    通过与冷热冲击试验箱的组合,在温度冲击环境下进行连接件的可靠性和封装品的导通性评价试验。通过叠加AC/DC电压的4端子连接方法,可以实现稳定地测定极微小的电阻。适用于无铅焊锡、BGA、RELAY接点等封装品的导通试验。也适用于汽车电子组件在冷热冲击环境下,导通电阻的连续测定。

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  • SIR13绝缘劣化及离子迁移特性评价系统

    通过与恒温恒湿箱的组合,在湿热环境下进行离子迁移,绝缘电阻,绝缘特性的评价试验。各测定通道或群组可设定Z高250V/500V/100V的施加电压,且各测定回路拥有独立的电流检测回路。Z多可同时测定128通道。 通过测定电缆线的屏蔽,电流电压转换回路的滤波,软件滤波等的噪声,可实现稳定的微小电流和高电阻测试。

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  • SX系列小型温湿度试验箱

    针对零部件和小型产品的小型恒温恒湿试验箱,本机设操作面板及电脑集中管理为一体。重叠在一起的温湿度箱(Z多为3个),可以在不同条件下工作,特别适合于零部件和小型产品在不同的条件下,同时进行环境试验。每个箱的两侧备有测量接线口,可方便与外部电路连接。

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  • FX NEO系列温湿度试验箱

    适用于零部件到完成品的标准恒温恒湿试验箱。以恒定的温湿度进行各种环境试验,也可进行温湿度变化的环境试验,且所有操作都可实现程序控制。其中,FX730N可以进行低达-70℃的低温试验,箱内容积为800L,可适于较大的试验样品。

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  • NT系列冷热冲击试验箱

    可进行零部件和完成品的冷热冲击试验。本体由:电热器和储热系统构成的高温室、二次元冷冻系统和储冷系统构成的低温室和试验区三部分组成。通过气门的开闭急速交换试验区的冷热空气来实现对试验样品的冷热冲击。样品无须移动,减少了振动对样品的影响,且极有利于样品的在线测试。

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